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論文

白金単結晶表面に吸着した希ガス(Ar,Kr)の電子衝撃脱離

馬場 祐治; G.Dujardin*; P.Feulner*; D.Menzel*

表面科学, 13(5), p.244 - 248, 1992/07

白金(111)単結晶表面に吸着したアルゴン及びクリプトンに関し、電子衝撃による正イオンの脱離挙動を10~120eVのエネルギー範囲で調べた。Ar$$^{2+}$$の脱離が起こるための照射エネルギー閾値は83eVであり、これはAr$$^{3+}$$の生成及びそれに伴うAr$$^{3+}$$ArからAr$$^{2+A}$$r$$^{+}$$又はAr$$^{2+ast}$$Ar$$^{+}$$への遷移による隣接イオンのクーロン反発力により説明できる。一方、Ar$$^{+}$$及びAr$$_{2+}$$の脱離は24.2,25.4,34及び50eVに閾値が認められた。最初の2つの閾値は、それぞれ、表面及びバルクのエキシトン(励起子)対の生成に対応する。脱離のエネルギー閾値及び脱離強度の吸着層依存性の解析により、エキシトン対生成による脱離の機構について議論した。

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